JY/T 009-1996  轉靶多晶體X射線衍射方法通則  本標準規定了用多品體 X射線衍射儀在室溫、高、低溫條件下對各種多晶材料進行物相組成的定性分析、物相組成的定量分析、晶粒的大小（范圍約為1nm-200nm）及晶粒內點陣畸變的測定。屬立方晶系晶體的點陣常數的測定的一般方法

標準號：JY/T 009-1996

發布日期：1997-01-23

實施日期：1997-04-01

廢止日期：暫無

頒發部門：國家教育委員會

本標準適用于各種多品體材料，如金屬與合金、礦物與土壤、陶瓷與建筑材料、有機與無機化合物、藥物與聚合物及環保試樣等。主要適用于衍射儀法，但可參照使用于照相法

權威：CMA&CNAS資質、具有法律效力

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